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FRT, Fries Research & Technology GmbH |

Führendes französisches Forschungsinstitut setzt auf FRT

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CEA-LETI in Grenoble kauft spezielle Wafer-Messtechnik


CEA-LETI in Grenoble kauft spezielle Wafer-Messtechnik Bergisch Gladbach - Eine der weltweit führenden Forschungseinrichtungen für die Segmente Mikroelektronik sowie Informations- und Gesundheitstechnologie setzt auf Oberflächen-Messtechnik aus dem Rheinland. ...

Bergisch Gladbach - Eine der weltweit führenden Forschungseinrichtungen für die Segmente Mikroelektronik sowie Informations- und Gesundheitstechnologie setzt auf Oberflächen-Messtechnik aus dem Rheinland. CEA-LETI arbeitet zukünftig mit einem vollautomatischen Wafer Inspektionssystem der Serie FRT MFE (Metrology For Frontend). Mit diesem Gerät hat Fries Research & Technology (FRT) eine Lösung entwickelt, die für die unterschiedlichsten Messaufgaben während der Prozesskontrolle in der Wafer Herstellung geeignet ist. Außerdem wird die Anlage zur Grundlagenforschung für die zukunftsweisende 3D-IC Verbindungstechnologie eingesetzt.

CEA-LETI gehört zur französischen Großforschungseinrichtung "Commissariat à l'Ènergie Atomique et aux Ènergies Alternatives" (CEA) in Grenoble, in den französischen Alpen. Zum Einsatz kommt dort in Zukunft ein MFE-System, mit dem sowohl Rohwafer als auch strukturierte und gebondete Wafer hochauflösend und nach SEMI-Standards charakterisiert werden können. Für 3D-IC / TSV-Messungen (Through Silicon Vias) wurde das Geräte auf eine neue Technologie vorbereitet, die besonders kleine TSV mit sehr hohem Aspektverhältnis (< 5 µm Durchmesser, bis zu 180 µm Tiefe) quantitativ evaluieren kann. Das FRT MFE System basiert auf der bewährten MicroProf Multisensor-Technologie, die unterschiedlichste Messaufgaben in einem Gerät kombiniert. CEA-LETI bestimmt mit der neu beschafften Anlage Parameter wie z.B. TTV (Total Thickness Variation), Ebenheit, Bow, Warp, Rauheit, 3D Topographie und Schichtdicke.

FRT MicroProf: Modulare und zukunftssichere Multisensor-Messtechnik
Die FRT Multisensor Messtechnik, die auch vom 19.-21. Oktober auf der SEMICON Europa präsentiert wird (Stand: 1.649) ist optimal auf die vielfältigen Messaufgaben in der Wafer Metrologie vorbereitet. Dank ihrer Modularität ist sie bestens für zukünftige Erweiterungen gerüstet. Durch die Kombination mehrerer Messverfahren in einem universellen Gerät kann der Platzbedarf in der Produktionsumgebung minimiert werden kann. Mit einem optionalen Waferhandling erreichen die Lösungen einen sehr hohen Automatisierungsgrad. Zum Einsatz kommen MicroProf Messgeräte bei führenden internationalen Herstellern und Forschungsinstituten der Mikroelektronik- und Mikrosystemtechnik sowie Photovoltaik, Medizintechnik, der Automobilbranche und dem Maschinenbau.

FRT live
Sie finden FRT auf folgenden Messen:
- testXpo, Fachmesse für Prüftechnik, Ulm (11. - 14. Oktober 2010)
- SEMICON Europa 2010, Dresden (19.-21. Oktober 2010), Stand 1.649


FRT, Fries Research & Technology GmbH
Jens Bonerz
Friedrich-Ebert-Straße
51429 Bergisch Gladbach
02204 842430

http://www.frt-gmbh.com



Pressekontakt:
Alpha & Omega PR
Oliver Schillings
Am Mühlenberg 47
51465
Bergisch Gladbach
o.schillings@aopr.de
02202 / 959 002
http://www.aopr.de


Für den Inhalt der Pressemitteilung ist der Einsteller, Oliver Schillings, verantwortlich.

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