Scherfestigkeit der bleifreien Lotpasten von Heraeus nach 1000 Zyklen noch bei sehr guten 80 % der Initial-Scherfestigkeit Spezielles Legierungssystem sorgt für sichere Funktion der Verbindung bis 165 °C
Scherfestigkeit der bleifreien Lotpasten von Heraeus nach 1000 Zyklen noch bei sehr guten 80 % der Initial-Scherfestigkeit
Spezielles Legierungssystem sorgt für sichere Funktion der Verbindung bis 165 °C Die bleifreie F640IL-Lotpaste von Heraeus erhöht die Kriechfestigkeit zwischen Lot und ...
Die bleifreie F640IL-Lotpaste von Heraeus erhöht die Kriechfestigkeit zwischen Lot und keramischen Bauteilen - zum Beispiel Widerstände oder Kondensatoren - auf Leiterplatten (Printed Circuit Boards - PCBs) signifikant.
Die Lotpaste ist geeignet für SMT-Anwendungen und hält nach einem Temperaturschocktest von - 40 auf + 125 °C mit 1206 Chip-Bauteilen noch mehr als 80 % der Initial-Scherfestigkeit nach 1000 Zyklen. Bei herkömmlichen SAC-Lotpasten lag dieser Wert bei 50 %. Nach 2000 Zyklen hat die InnoRelTM F640IL-Lotpaste noch mehr als 70 % der Initial-Scherfestigkeit, während Standard-SAC-Lotpasten wie SAC305, SAC405 oder SAC409 hier nur bei durchschnittlich 25 % lagen. Die InnoRelTM Technologie für Leiterplatte verwendet das Innolot-Legierungssystem als metallurgisches Kernsystem. Das spezielle Legierungssystem sorgt für eine sichere Funktion der Verbindung bis 165 °C. Bislang erreichten Standard SAC-Systemen allgemein nur bis 125 °C. Alle Produkte der InnoRel-Serie mit der Innolot® Legierung (F640IL-Druck-/Dispenspaste, SF64-Flussmittel und die W640IL-Drähte) beruhen auf einem chemisch identischen Flussmittel-System.
Anton Miric, Direktor Produktline Automotive & Industrial, Microbond Assembly Materials bei Heraeus, ist überzeugt, dass "die Technologie der InnoRel-Reihe unser Engagement im Bereich der Megatrends demonstriert. Die "grünen" bleifreien Lotpasten sind nicht nur umweltbewusst. Sie erhöhen auch die Zuverlässigkeit und Betriebstemperatur und erfüllen die steigenden Bedürfnisse der Anwender in diesem Bereich".
W. C. Heraeus
Tom Grunwaldt
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06.12.2010
06. Dez 2010
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