info@PortalDerWirtschaft.de | 02635/9224-11
Suchmaschinenoptimierung
mit Content-Marketing - Ihre News
LEIRIOS |

Global Platform testet Chipkarten-Standard mit LEIRIOS-Lösung

Bewerten Sie hier diesen Artikel:
1 Bewertung (Durchschnitt: 3)


München, 7. Januar 2008 - Global Platform, die internationale Vereinigung für die Definition von Standards für Chipkarten, setzt die Lösungen von LEIRIOS beim Test neuer Spezifikationen ein. Das Smart Testing von LEIRIOS ermöglicht eine Generierung von Test-Cases und Test-Scrips direkt aus Modellen. Damit kann ohne zusätzlichen Aufwand eine deutlich höhere Testabdeckung erreicht werden.

Global Platform ist eine internationale Vereinigung von Unternehmen, die Standards für Chipkarten und die für deren Einsatz notwendigen Infrastrukturen entwickelt und festlegt. Mitglieder sind unter anderem Visa, Mastercard, IBM, Sun, Giesecke & Devrient, Thales, NTT und France Telecom.

Global Platform hat nun entschieden, für die Erstellung einer Compliance-Test-Suite zur Prüfung der neuen Spezifikation GP 2.2 die Lösungen von LEIRIOS zu verwenden.

Mit den Werkzeugen von LEIRIOS können Software-Tester direkt aus einer UML-basierten System-Modellierung Test-Cases und Test-Scripts für ihre Testwerkzeuge generieren. Auf diese Weise lassen sich ohne großen Aufwand Testfälle in großer Zahl systematisch erzeugen, was mit herkömmlichen, manuellen Methoden nicht möglich wäre. Auch komplexe Applikationen können mit LEIRIOS Smart Testing sehr effizient und dennoch umfassend getestet werden.

"LEIRIOS ist schon seit langem in die Herstellung von Chipkarten stark involviert", erklärt Josef Narings, General Manager für LEIRIOS Deutschland in München. "Software für Chipkarten ist besonders sicherheitskritisch und muss daher besonders gründlich getestet werden. Dafür ist das Smart Testing von LEIRIOS die ideale Lösung."

Diese Presseinformation ist unter www.pr-com.de abrufbar.

LEIRIOS bietet Lösungen für das Modell-basierte Design von Software-Tests. Mit dem LEIRIOS Test Designer können Unternehmen auf Basis der Modellierungssprache UML komplexe Tests erzeugen und so ihre Programme umfassender testen, als es mit manuellen Test-Scripts möglich wäre. Auf diese Weise lässt sich die Fehlerzahl entscheidend reduzieren und die Softwarequalität verbessern. LEIRIOS wurde 1995 gegründet und beschäftigt derzeit 47 Mitarbeiter. Der Hauptsitz des französischen Unternehmens ist Besançon, Niederlassungen bestehen in Paris und seit 2006 auch in München.

Weitere Informationen:

LEIRIOS GmbH
Josef Narings
General Manager Deutschland
Elisabethstraße 91
D-80797 München
Tel. +49 (0) 173 675 44 01
josef.narings@leirios.com

PR-COM GmbH
Susanna Tatar
Account Manager
Nußbaumstraße 12
D-80336 München
Tel. +49-89-59997-814
Fax +49-89-59997-999
susanna.tatar@pr-com.de

Web: http://www.leirios.com


Für den Inhalt der Pressemitteilung ist der Einsteller, Ulrich Schopf, verantwortlich.

Pressemitteilungstext: 259 Wörter, 2239 Zeichen. Als Spam melden


Kommentare:

Es wurde noch kein Kommentar zu diesem Thema abgegeben.



Ihr Kommentar zum Thema





Weitere Pressemitteilungen von LEIRIOS lesen:

LEIRIOS | 15.05.2008

LEIRIOS startet Partner-Programm für Modell-basiertes Testen

Mit den Werkzeugen von LEIRIOS können Software-Tester direkt aus einer UML-basierten System-Modellierung Test-Cases und Test-Scripts für ihre Testwerkzeuge generieren. Durch das Modell-basierte Testen lassen sich ohne großen Aufwand Testfälle in ...
LEIRIOS | 31.01.2008

LEIRIOS unterstützt Action-Word Based Testing

Mit der Methode des Action-Word Based Testing können Software-Tester verschiedene Test-Szenarien anhand von Schlüsselwörtern definieren. Diese Schlüsselwörter - Action-Words - bilden elementare Interaktionen zwischen den Benutzern und dem System...
LEIRIOS | 14.12.2007

LEIRIOS Test Designer unterstützt Borland Together 2007

Mit dem LEIRIOS Test Designer können Software-Tester direkt aus einer UML-basierten System-Modellierung Test-Cases und Test-Scripts für ihre Testwerkzeuge generieren. Auf diese Weise lassen sich ohne großen Aufwand Testfälle in großer Zahl syste...