Testverfahren und Teststrategien in der Elektronik

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Kategorie

Coaching & Persönlichkeitsentwicklung

Zeitraum

16.11.2016 - 17.11.2016

Adresse

Fritz-Bauer-Str. 13
DE - 90518 Altdorf b. Nürnberg (Weiterbildungszentrum Altdorf)
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http://www.taw.de/veranstaltung/81121110W6

Die Veranstaltung findet online statt.

Kurzbeschreibung

Der Einsatz neuer Technologien wie SMD, COB, BGA usw. sowie der Wandel in der Qualitätssicherung (Prozess-Sicherung statt Endkontrolle) fordert ständige Anpassungen, Optimierungen und Einführung neuer Testverfahren. In Teststrategien zu denken ist una...

Seminarinhalt

Ziele und Bedeutung der Sichtkontrolle

Optische Beurteilungskriterien und Hilfsmittel

Automatische Inspektion (AOI, AXI)

Aufbau und Unterschiede von 2D/3D-AOI-Systemen

Methoden der Bauteil- und Lötstellenerkennung

Röntgentechnik

Vergleich der AOI-Methoden

In-Circuit-Testverfahren

Aktives und passives Guarding

Backdriving, Pin-Architekturen, Multiplexing

Grenzen des In-Circuit-Tests

Funktionstestverfahren

Selbsttest (BIST)

Emulationsverfahren

Mikroprozessor-Emulation (ICE), ROM-Emolation,
Bus-Emulation

Simulation

Goodboard-Simulation und Fehlersimulation

Boundary Scan

Funktion, Betriebsarten und Teststrategien

Realisierungen bei Testsystemen

Vergleich der Testverfahren bezüglich

Fehlerabdeckung, Fehlererkennung, Diagnose, Adapter- und Testprogrammkosten

Testbarkeitsrichtlinien (DFT)

Globale Entwurfsrichtlinien, FMEA, DFT für Sichtkontrolle, AOI, AXI, ICT, FKT und Boundary Scan

CAD-Link für Testsysteme

Möglichkeiten und Vorteile der CAD-Datenübernahme

Computerunterstützte Reparatur

Test- und Reparaturprozesse, Paperless Repair,
Yield-Regelkreis

Reparaturprozesse mit Nullfehler- und Yield-Regelkreis

Adaptierungsmöglichkeiten

Adaptionsarten, Verdrahtung, Auswahl von Federkontaktstiften

Optimierung von Teststrategien

Ziele, Einflüsse und Parameter bei der Auswahl von Teststrategien in der Produktion und im Service

Teilnehmer

Mindestens: 4
Maximal: 0

Preis

1030€ (mehrwertsteuerfrei, einschließlich Seminarunterlagen, Pausengetränken und Mittagessen)

Eingestellt am: 12.02.2024 von: Ralf Engel.

Testverfahren und Teststrategien in der Elektronik

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Kurzbeschreibung

Seminarinhalt

Teilnehmer

Preis

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