Kurzbeschreibung

Der Einsatz neuer Technologien wie SMD, COB, BGA usw. sowie der Wandel in der Qualitätssicherung (Prozess-Sicherung statt Endkontrolle) fordert ständige Anpassungen, Optimierungen und Einführung neuer Testverfahren. In Teststrategien zu denken ist una...

Seminarinhalt

• Ziele und Bedeutung der Sichtkontrolle
• Optische Beurteilungskriterien und Hilfsmittel
• Automatische Inspektion (AOI, AXI)
• Aufbau und Unterschiede von 2D/3D-AOI-Systemen
• Methoden der Bauteil- und Lötstellenerkennung
• Röntgentechnik
• Vergleich der AOI-Methoden
• In-Circuit-Testverfahren
• Aktives und passives Guarding
• Backdriving, Pin-Architekturen, Multiplexing
• Grenzen des In-Circuit-Tests
• Funktionstestverfahren
• Selbsttest (BIST)
• Emulationsverfahren
• Mikroprozessor-Emulation (ICE), ROM-Emolation,
  Bus-Emulation
• Simulation
• Goodboard-Simulation und Fehlersimulation
• Boundary Scan
• Funktion, Betriebsarten und Teststrategien
• Realisierungen bei Testsystemen
• Vergleich der Testverfahren bezüglich
• Fehlerabdeckung, Fehlererkennung, Diagnose, Adapter- und Testprogrammkosten
• Testbarkeitsrichtlinien (DFT)
• Globale Entwurfsrichtlinien, FMEA, DFT für Sichtkon­trolle, AOI, AXI, ICT, FKT und Boundary Scan
• CAD-Link für Testsysteme
• Möglichkeiten und Vorteile der CAD-Datenübernahme
• Computerunterstützte Reparatur
• Test- und Reparaturprozesse, Paperless Repair,
  Yield-Regelkreis
• Reparaturprozesse mit Nullfehler- und Yield-Regelkreis
• Adaptierungsmöglichkeiten
• Adaptionsarten, Verdrahtung, Auswahl von Feder­kontakt­stiften
• Optimierung von Teststrategien
• Ziele, Einflüsse und Parameter bei der Auswahl von Teststrategien in der Produktion und im Service

Teilnehmer

Mindestens: 4
Maximal: 0

Preis

1030€ (mehrwertsteuerfrei, einschließlich Seminarunterlagen, Pausengetränken und Mittagessen)

Eingestellt am: 28.02.2024 von: Ralf Engel.