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Technische Akademie Wuppertal e.V. | 25.03.2018

Röntgendiffraktometrie für die Praxis


Kategorie:
Zeitraum:
PLZ/Ort:
Strasse:
Coaching & Persönlichkeitsentwicklung
02.06.2016 - 03.06.2016
DE-42117 Wuppertal (Weiterbildungszentrum Wuppertal)
Hubertusallee 18

Kurzbeschreibung


Sie erhalten einen umfassenden Überblick zum aktuellen Stand der Gerätetechnik und die Einsatzmöglichkeiten der röntgenographischen Phasenanalyse. Die Einflüsse der Probenpräparation und der verwendeten Beugungsgeometrie auf das Analyseergebnis werde...

Seminarinhalt


  • Grundlagen
    • Erzeugung von Röntgenstrahlen, Informationsgehalt
      der Röntgenbeugung, Grundlagen und Begriffe der qualitativen und quantitativen röntgenographischen Phasenanalyse und der Kristallographie
  • Gerätetechnik, Messverfahren
    • Diffraktometertechniken, Reflexions-, Transmissionsund Kapillarmessungen, Strahl- und Messoptimierung (Monochromatoren, streifender Einfall)
  • Detektoren
    • Wirkungsweise und Einsatz von Proportionalzählern, ortsempfindlichen Detektoren und Flächenzählern
  • Probenpräparation
    • Untersuchung von Pulvern und kompakten Proben, Probenvorbereitung, Analyse von luftempfindlichen Proben und geringen Substanzmengen, Charakteri­sierung von dünnen Schichten
  • Qualitative und quantitative Phasenanalyse
    • Auswertung von Beugungsdiagrammen, Software­möglichkeiten, Datenbank ICDD (Inhalt und Anwen­dung), Nachweisgrenzen, Auflösung, Phasenanalyse, amorpher Anteil, Polymorphie, Grundgedanke der Rietveldmethode
  • Zusätze
    • Hoch- und Tieftemperaturkammern, spezielle Probenträger, Dünnfilmzusatz, Kapillaroptik
  • Hoch- und Tieftemperaturmessung
    • Probenpräparation, Messgeometrie, Temperatur­messung, automatischer Messablauf
  • Spezielle Fragestellungen
    • Textur, Eigenspannung, Kristallitgrößenbestimmung, Kristallinität, amorpher Anteil
  • Einsatzgebiete / Anwendungen
    • Diskussion anwenderspezifischer Probleme (chemische Labors, Stahlindustrie, Umwelt- und Abfallanalytik, Pharmaindustrie, Pulvermetallurgie), Verbindung zur Röntgenfluoreszenzanalyse
  • Grundanforderungen des Strahlenschutzes
  • Erfahrungsaustausch und Abschlussdiskussion

Teilnehmer


Mindestens: 4
Maximal: 12

Preis


1095€ (mehrwertsteuerfrei, einschließlich Seminarunterlagen, Pausengetränken und Mittagessen)


Zur Veranstaltungsseite: http://www.taw.de/veranstaltung/51024101W6

Unternehmenseintrag: Technische Akademie Wuppertal e.V.

Eingestellt am: 25.03.2018 von: Ralf Engel.

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